激光粒度儀的量程是指系統所能達到的zui大上限和zui小下限，分全程量程和分檔量程兩種形式。

    全程量程是從上限到下限一次測量，這種設置的優(yōu)點是操作簡便，重復性好，沒有歧義，是目前大多數國內外激光粒度儀制造商普遍采用的方式；分檔量程是在全量程中又分成若干段。它的優(yōu)點是在探測器數量有限的情況下提高分辨率，缺點是容易產生歧義（同一個樣品在不同檔的測試結果不一致），調整過程容易產生誤差，是早期激光粒度儀采用的技術。